เวียงพางค์HAST ความดันสูงเร่งอายุห้องทดสอบ:ชื่อภาษาอังกฤษ Highly Accelerated Stress Test Chamber ใช้ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูงความชื้นและความดันสูงของชิปเลียนแบบการทดสอบการเร่งอายุในช่วงเวลาหนึ่งเพื่อตรวจสอบความน่าเชื่อถือและอายุการใช้งานของชิปในเวลาที่สั้นที่สุดเพื่อปรับปรุงคุณภาพและความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์

►ความดันแรกของอุตสาหกรรมสามารถเข้าถึงช่วงการทดสอบ 4 กิโลกรัม,

►การออกแบบประตูกล่องอัตโนมัติ, ปุ่มควบคุมประตูกล่องเปิดและปิด, การป้องกันความดันของตัวเอง,

►อัลกอริทึมการควบคุม PID ในตัวการวิจัยด้วยตนเองเพื่อให้แน่ใจว่าอุณหภูมิความชื้นและความถูกต้องของค่าความดัน

►เข้ากันได้กับการทดสอบความร้อนและความชื้นคงที่ (HAST) และการนึ่งแรงดันสูง (PCT) ของไอน้ำแรงดันสูงไม่อิ่มตัว

ตรงตามมาตรฐานการทดสอบ：

AEC Q101 (ชิปวัดระดับรถยนต์)

JIS C0096-2

GB / T2423.40-1997 การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมสำหรับผลิตภัณฑ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ ส่วนที่ 2: วิธีทดสอบ Cx: ความร้อนชื้นคงที่ของไอน้ำแรงดันสูงไม่อิ่มตัว

IEC60068-2-66-1994 การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม ส่วนที่ 2-66: วิธีการทดสอบ ทดสอบ Cx: สถานะคงที่และความร้อนชื้น

อุณหภูมิและความชื้นชดเชยชีวิต JESD22-A100 รอบ

JESD22-A101 อุณหภูมิคงที่, ความชื้น / อคติ, การทดสอบชีวิต (อุณหภูมิความชื้นอคติชีวิต)

JESD22-A102 การทดสอบการทำอาหารแรงดันสูง (เร่งการเจาะความต้านทานความชื้น)

JESD22-A108 อุณหภูมิ แรงดันไฟฟ้าอคติ และอายุการใช้งาน

JESD22-A110 HAST การทดสอบความเครียดด้วยอุณหภูมิและความชื้นเร่งสูง

JESD22-A118 อุณหภูมิและความชื้น ปราศจากอคติ การทดสอบความเค้นเร่งสูง UHAST (ไม่มีแรงดันไฟฟ้าอคติ ไอน้ำแรงดันสูงไม่อิ่มตัว)

* สามารถปรับแต่งพารามิเตอร์ข้อกำหนดใด ๆ รุ่นที่ไม่ได้มาตรฐาน