กล้องจุลทรรศน์โลหะของไลก้าDM12000Mใช้หลักการทางแสง วางตัวอย่างที่ทดสอบไว้บนแท่นสังเกตการณ์ในกล้องจุลทรรศน์ ขยายภาพของตัวอย่างเข้าไปในช่องมองภาพของกล้องจุลทรรศน์โดยการสะท้อนหรือส่งแสง ด้วยคุณสมบัติของตัวอย่างการกระจายและการดูดซับแสงปรากฏการณ์ภาพของตัวอย่างเมื่อมีการถ่ายภาพจะเปลี่ยนไปตามพารามิเตอร์ ผู้สังเกตการณ์สามารถตัดสินโครงสร้างกล้องจุลทรรศน์และเนื้อเยื่อของตัวอย่างตามการเปลี่ยนแปลงนี้

DM12000M Leica Metallographic Microscope คุณสมบัติ:

I. การออกแบบแสงใหม่ทั้งหมดสามารถให้โหมดแมโครการตรวจสอบเบื้องต้นอย่างรวดเร็วเช่นเดียวกับฟังก์ชั่นเส้นทางแสงอัลตราไวโอเลตเอียง (OUV, โหมดการสังเกตรังสีอัลตราไวโอเลตเอียง) ไม่เพียง แต่เพิ่มความละเอียด แต่ยังเพิ่มความสามารถในการตรวจสอบแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอนขนาด 12 นิ้ว (300 มม.) เทคโนโลยีการส่องสว่าง LED ใหม่ได้รับการออกแบบและรวมเข้ากับกล้องจุลทรรศน์การแผ่รังสีความร้อนต่ำและเทคโนโลยีการรวมในร่างกายช่วยให้มั่นใจได้ว่าอากาศภายนอกร่างกายในอุดมคติ

ครั้งที่สอง DM12000M Leica Metallographic Microscope เมื่อสั้นการใช้งานการตรวจสอบการปรับปรุงประสิทธิภาพการตรวจสอบอุปกรณ์โฟกัสอัตโนมัติอุปกรณ์ตรวจสอบแสงส่งผ่านอุปกรณ์โฟกัสอัตโนมัติสามารถจับคู่กับวิธีการสังเกตแสงสะท้อนทั้งหมดแม้กระทั่งสนามมืดและการสังเกตการแทรกแซงเฟสดิฟเฟอเรนเชียล ช่วยให้ระบบออโต้โฟกัสที่รวดเร็วและแม่นยำ แม้กระทั่งการค้นหาพื้นผิวโฟกัสแบบเรียลไทม์และแม่นยำเมื่อเปลี่ยนวิธีการสังเกต

สามอุปกรณ์ส่องสว่างสองชนิดเป็นตัวเลือกประเภทสากลและประเภทรูรับแสงที่มีค่าสูง สำหรับ FPD การตรวจสอบบอร์ด MASK ให้แสงที่เหมาะสมและสามารถติดตั้งกระจกอคติเพื่อให้ได้สังเกตแสงโพลาไรซ์ง่าย ความแตกต่างสูง, ความละเอียดสูง, การตรวจสอบอัตราที่สูงขึ้น, วิธีการสังเกตการเรืองแสงโหมด spectroscope เรืองแสงสำหรับการตรวจสอบการตกค้างของ photolithography ระบบออปติคอล UV สามารถให้ความแตกต่างและความละเอียดที่สูงขึ้นและความละเอียดสามารถเข้าถึง0.12μm

IV มี U.B.G และวิธีการเรืองแสงอื่น ๆ อีกมากมายเป็นตัวเลือกสำหรับการตกค้างของกาวเซลล์และการตรวจสอบ OLED อินเตอร์เฟซการสื่อสารที่สะดวกสำหรับการคูณกล้องจุลทรรศน์และรูรับแสงการควบคุมและพารามิเตอร์ของไส้ติ่งได้รับ RS232C สำหรับเวเฟอร์เช่นเดียวกับอุปกรณ์และแม้กระทั่งเท้าเชื่อมของการตรวจสอบภายในของอุปกรณ์สังเกตการณ์อินฟราเรดใกล้อุปกรณ์มาตรฐานรวมถึงอินเตอร์เฟซ RS232C ทำให้สามารถควบคุมชิ้นส่วนไฟฟ้าของกล้องจุลทรรศน์ด้วยพีซีและสามารถทำได้เพื่อให้หลายกล้องจุลทรรศน์ในสายกระบวนการทำงานในสถานะการตั้งค่าเดียวกัน

V. รวมถึงเลนส์อินฟราเรดพิเศษและอุปกรณ์เสริมอื่น ๆ เพื่อแก้ไขความคลาดเคลื่อนจากแสงที่มองเห็นได้ถึงแสงใกล้คลื่นอินฟราเรดสำหรับการตรวจสอบความลึกของ IC หรือการตรวจสอบภายในสามารถตรวจสอบเต็มรูปแบบของ WAFER BUMP อุปกรณ์วัดความกว้างเส้นอัตโนมัติของ CD ด้วยเทคโนโลยีพิกเซลย่อยเพื่อให้ได้การวัดแผ่นซีดีที่แม่นยำสูง

6. การออกแบบการประหยัดพลังงานที่ใช้พลังงานต่ำช่วยยืดอายุการใช้งานได้อย่างมากและสอดคล้องกับแนวคิดของการปกป้องสิ่งแวดล้อมสีเขียว การออกแบบการจัดการเพียงคลิกเดียวช่วยให้ผู้ใช้สามารถแปลงอัตราทวีคูณและเอฟเฟกต์แสงและเฟสที่เกี่ยวข้องได้อย่างง่ายดาย